紙張測厚儀 薄膜厚度測量儀 片形材料測定儀

產(chan) 品介紹

紙張測厚儀(yi) 薄膜厚度測量儀(yi) 片形材料測定儀(yi) 是瓦楞紙板厚度測定的儀(yi) 器，其主要技術指標和性能參數符合GB451·3《紙和紙板厚度的測定法》的有關(guan) 規定，可廣泛適用於(yu) 紙板、瓦楞紙板及其他片狀材料的厚度測定。瓦楞紙板厚度測定儀(yi) 哪裏做得好？

紙張測厚儀(yi) 薄膜厚度測量儀(yi) 片形材料測定儀(yi)

產(chan) 品特征
任意位置清零，以便於(yu) 微差測量
具有ON/OFF開關(guan) 鍵，可選擇自動斷電
測量製式可進行轉換

技術參數

測量範圍：（0～20）mm

分辨率：0.001mm

接觸壓力：（20±2）kPa

接觸麵積：（1000±20）mm2

測量麵平行度：≤0.035mm

示值誤差：±0.05％

測試標準

GB/T 24328.2

售後服務

供方嚴(yan) 格按照國家有關(guan) 標準和規定進行製造和檢驗，確保材料及零部件均為(wei) 全新；

供方提供的質量保證期12個(ge) 月。如在此期間確因供方產(chan) 品質量問題，由共方負擔儀(yi) 器材料費、維修費、儀(yi) 器往返廠運費；

如運輸過程中儀(yi) 器受損，由供方負擔儀(yi) 器材料費、維修費、儀(yi) 器往返廠運費；

保修期外長期提供技術支持，終生不收維修費，隻收取基本材料費及運費；

接受服務請求後1小時內(nei) 做出回應，2小時內(nei) 提出處理意見和解決(jue) 方案。