高真空凍幹西林瓶密封性1μm檢測限

    針對凍幹粉針密封性，目前國內(nei) 常用真空衰減或壓力衰減法進行檢測，在實際應用中，通常采用3μm的檢測限，而這種微泄漏會(hui) 導致包裝頂空發生改變，包括壓力、氧氣、水汽，使得產(chan) 品的穩定性發生改變。對於(yu) 高真空凍幹西林瓶，由於(yu) 瓶內(nei) 外壓差大，非常微小的泄漏都會(hui) 導致頂空顯著改變。

因此，需要找到一個(ge) 高度靈敏的包裝密封性檢測技術來替代現有的真空/壓力衰減法。而我們(men) 公司目前檢測極限可以檢測≥1um，bai分百檢出。

檢測儀(yi) 器推薦：MLT-V100微泄漏無損密封測試儀(yi)

MLT係列微泄漏無損密封測試儀(yi) 依據《ASTM F2338-2013 包裝泄漏的標準梱測方法-真空衰減法》   標準研發。與(yu) 業(ye) 適用於(yu) 各種空的/預充式 注射器、水針及粉針瓶(玻璃/塑料)、灌裝壓蓋瓶、奶粉罐、其他硬質包裝容器、電器元件等試樣的無損正、負壓的微泄漏測試。本產(chan) 品采用先 進的設計和嚴(yan) 謹、科學的計算方法保證了其快速測試和高準確度及高穩定性。亦可滿足用戶的非標準(軟件或測試夾具)定製。

測試原理：

通過標準腔與(yu) 測試腔的壓力比對，來判定測試腔是否存在氣體(ti) 泄漏。

基準容器和被測容器都是確保密封不存在泄漏的，將試樣放入被測容器後，由於(yu) 試樣的氣體(ti) 泄漏導致被測容器的壓 力變化，通過差壓傳(chuan) 感器檢測到壓力的變化量，再通過公式計算可推導出泄漏孔徑和泄漏流量。

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