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玻璃製品應力檢查儀(yi) 是應用偏振光幹涉原理檢查玻璃內(nei) 應力或晶體(ti) 雙折射效應的儀(yi) 器。由於(yu) 儀(yi) 器備有靈敏色片，並應用1/4波片補償(chang) 方法，因此本儀(yi) 器不僅(jin) 可以根據偏振場中的幹涉色序，定性或半定量地測量玻璃的內(nei) 應力，還可以準確定量測量玻璃的內(nei) 應力數值。
檢測設備：
SG-03偏光應力儀(yi)
本儀(yi) 器適合光學儀(yi) 器廠、玻璃廠、玻璃製品廠、實驗室使用，用於(yu) 測量各類玻璃製品、光學玻璃、透明塑料製品及其它光學材料應力值的測量。
本產(chan) 品在出廠前已嚴(yan) 格調試，符合國內(nei) 外相關(guan) 標準的規定，包括：
l GB/T 4545 《玻璃瓶罐內(nei) 應力檢驗方法》
l GB/T 12415 《藥用玻璃容器內(nei) 應力檢驗方法》
l GB/T 15726 《玻璃儀(yi) 器內(nei) 應力檢驗方法》
l JC/T 655 《石英玻璃製品內(nei) 應力檢驗方法》
l YBB00162003 《國家藥品包裝容器（材料）方法標準 內(nei) 應力測定法》
l ASTM C148 (Standard Test Methods for Polariscopic Examination of Glass Containers)（玻璃容器偏振鏡檢查的試驗方法）
1 技術特色
相對傳(chuan) 統度盤式應力儀(yi) 及數顯應力儀(yi) ，SG-03進行了針對性改進，提高了測量精度和應用體(ti) 驗，具有測量精度高、無需校零及綠色節能等*特點：
l 高精度測量：本產(chan) 品采用高精度絕對式角度編碼器進行測量，測量精度優(you) 於(yu) 2.0nm。
l LED顯示屏雙數值顯示：本產(chan) 品顯示窗采用高清晰LED顯示屏，可同時顯示測量角度及光程差數值，用戶可直觀獲得所需數據，使測量直觀易讀。
l 暗視場無需校準：本產(chan) 品在出廠前對暗視場進行了精確校對。由於(yu) 采用了絕對式編碼器，偏振場的暗視場總是處於(yu) 零角度點，因此無需用戶校對零點，避免了人為(wei) 校對暗視場造成的誤差。
l 綠色節能：本產(chan) 品采用了更加節能環保的LED光源，相對傳(chuan) 統光源節能80%以上。
主要技術參數
測量精度 | ± 2nm |
複lingwu差 | ± 2nm |
光程差示值 | 0.1nm |
角度示值 | 0.1° |
偏振場直徑 | 150mm |
視場光亮度 | >120cd/m2 |
檢偏鏡旋轉角度 | 360°（±180°） |
偏振場間距調整範圍 | 50-250mm |
光源 | LED 色溫3500K |
功率 | <8W |
電壓 | AV 220V 50Hz |
總重量 |
測量原理：
定性測量原理
（1） 在正交的起偏鏡與(yu) 檢偏鏡之間放入雙折射物質，視場中便會(hui) 出現幹涉色，一定的幹涉色對應於(yu) 一定的雙折射光程差，其關(guan) 係如表（一）所示。
位於(yu) 起偏鏡與(yu) 檢偏鏡之間的全波片，其雙折射光程差為(wei) 565納米（nm），由表（一）可查到視場中的幹涉色為(wei) 紫紅色。
如果在正交偏振鏡之間除了全波片以外再加試件，則二者的組合程差δ′將大於(yu) 或小於(yu) 565納米，幹涉色也將相應地發生變化。根據幹涉色查表（一）得到組合的光程差δ′數值，由下麵公式可標出附加試件的光程差δ：
1、當附加試件的快軸與(yu) 全波片的快軸互相平行時：
δ= δ′- 565（納米）—————————— （公式 ①）
2、當附加試件的快軸與(yu) 全波片的慢軸互相平行時：
δ= 565 -δ′（納米）—————————— （公式 ②）
（2）有應力的玻璃試件也是雙折射物質，將這樣的試件放入應力檢查光路中也會(hui) 引起幹涉色的變化，就象上麵所講附加試件放入光路的情形一樣，隻是由於(yu) 玻璃試件應力不是均勻分布的。因此，試件各點雙折射光程差也不一致，結果視場中各點的幹涉色變化情況也不相同。但對於(yu) 試件中某一確定的點來說按上述方法【查表（一）得δ′後用公式①②計算】同樣可求得其光程差δ。
（3）當被測玻璃試件的雙折射光程差較大（例如，光程差大於(yu) 300納米）時；即使沒有全波片，也可以進行測量。這時將被測試件放在正交起偏鏡和檢偏鏡之間，可以看到明顯的幹涉色，根據表（一）即可查出被測試件光程差數值。
5 測量方法
5.1 測量之前
1、 根據被測量製品的長短，調整檢偏鏡與(yu) 起偏鏡之間的距離。鬆動鎖緊螺釘（16）並拉動導杆（18）上下移動，定好距離後要可靠鎖緊。
2、 將外接電源插頭插入220V 50Hz交流電使用，請確保用電安全。
3、按下電源開關(guan) （12）。此時儀(yi) 器光源打開，數值顯示窗顯示相關(guan) 數據。
5.2 定性測量
1. 注意：定性測量前，需要通過旋轉波片切換旋鈕（4），將全波片（3）置入視場。旋轉檢偏鏡座（1），使數值顯示窗（10）顯示角度為(wei) 0（同時光程差也顯示為(wei) 0）。此時，通過檢偏鏡（2）觀察視場，視場為(wei) 紫紅色。本儀(yi) 器在出廠前已經將光路調試正確。
2. 將試件置入幹涉視場中，通過檢偏鏡觀察被測試件整個(ge) 表麵，根據幹涉色定性地判斷退火質量。如果被測試件放入光路後，視場的顏色基本不變（仍為(wei) 紫紅色）或者隻有輕微的變化（由暗紅到紫色）說明退火質量良好。如果試件某些部位上幹涉色變化較大（例如出現綠色或黃色）說明退火質量差。
3. 如果有必要進行半定量檢驗，可一麵繞儀(yi) 器光軸轉動試件，一麵觀察幹涉色的變化情況找出試件中幹涉色變化較大的某一部位，並確定出最高色序與(yu) zuidi色序，見後麵表一（由其中一位置到另一位置，試樣約需轉動90°），然後參照下列計算被測試樣雙折射光程差。
例：試件某一部位在最高色序位置呈天藍色，由表（一）查得試樣與(yu) 全波片的組合光程差δ′= 664納米，它顯然是試樣與(yu) 全波片光程差相加結果（試件快軸與(yu) 全波片快軸互相平行）。將δ′帶入公式①得δ= 664–565 = 99納米。 試件轉動 90°後同一部位將處於(yu) zui低色序位置，通過檢偏鏡所看到的幹涉色為(wei) 褐黃色，由表一查得試件與(yu) 全波片組合光程差δ′=430納米，這一數值是全波片光程差與(yu) 試件光程差相減的結果（由於(yu) 試件轉了90°其快軸與(yu) 全波片慢軸相平行）將δ′帶入公式②得δ= 565 –430 = 135納米。 試件同一部位的光程差是一個(ge) 固定數值，然而測得兩(liang) 個(ge) δ值卻有相當大的出入，這是由人眼判別顏色的主觀誤差以及誤差因素造成，則可以取平均值。 δ=1/2（99+135）=117.5納米 |
定量測試
1. 注意：定量測量時，需要通過旋轉波片切換旋鈕（4），將1/4波片（5）置入視場。旋轉檢偏鏡座（1），使數值顯示窗（10）顯示角度為(wei) 0（同時光程差也顯示為(wei) 0）。此時，通過檢偏鏡（2）觀察視場，視場為(wei) 暗視場。如圖3所示。
無試件時切換到1/4波片觀察
2. 被測試件雙折射光程差δ不大於(yu) 1級條紋時，在應力檢查儀(yi) 視場中沒有明顯的幹涉色。當檢偏鏡處於(yu) 零位時，在試件中部和靠近上下表麵處均有較亮區域，被兩(liang) 根暗條紋隔開，旋轉檢偏鏡，使兩(liang) 暗條紋向試件中部移動並重合，通過數值顯示窗（10）可以直接讀出被測試件的光程差數值。
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