真空衰減法適用於無菌藥品容器完整性測試

  真空衰減法微泄漏無損密封測試儀(yi) 依據《ASTM F2338-2013 包裝泄漏的標準檢測方法-真空衰減法》 標準研發。 專(zhuan) 業(ye) 適用於(yu) 各種空的/預充式注射器、水針及粉針瓶（玻璃/塑料）、灌裝壓蓋瓶、其他硬質包裝容器、電器元件等試樣的 無損正、負壓的微泄漏測試。本產(chan) 品采用*的設計和嚴(yan) 謹、科學的計算方法保證了其快速測試和高準確度及高穩定 性。亦可滿足用戶的非標準（軟件或測試夾具）定製。

  真空衰減法作為(wei) 無損定量檢漏技術的代表，相比傳(chuan) 統檢漏方法如染色法、微生物侵入法優(you) 勢明顯；相比其他的無損檢漏技術如激光法，適用範圍廣，符合標準多。 MLT-V100微泄露無損密封儀(yi) 具有真空衰減法的最高檢漏精度≤1um，不僅(jin) 適用於(yu) 高、低真空度及常壓的包裝，也適用於(yu) 固體(ti) 、液體(ti) 填充的包裝，非常適合於(yu) 製藥行業(ye) 的客戶使用。

與(yu) 行業(ye) 裏長用的的檢測方法對比：

染色法：Ø 破壞性測試 Ø 受多方麵因素影響 Ø 可能會(hui) 出現假陽性結果

微生物侵入法：Ø 破壞性測試 Ø 泄漏通道為(wei) 曲折路徑時漏檢率高 Ø 測試時間長，測試過程繁瑣

真空衰減法:Ø 無損測試Ø 定量檢測Ø 測試時間短Ø 可以檢測高真空度、低真空度和常壓的包裝

Ø 可以檢測液體(ti) 部分的完整性 Ø 可以直接檢測出泄漏率和漏孔大小

Ø 同時符合美國ASTM標準和FDA要求Ø 封口前泄漏封口後完好的包裝可以檢出