塗層測厚儀的影響因素及遵守規定

   塗層測厚儀(yi) 可無損地測量磁性金屬基體(ti) (如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性塗層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺琅、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(ti) (如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺琅、橡膠、油漆、塑料等)。塗鍍層測厚儀(yi) 具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控製和保證產(chan) 品質量*的檢測儀(yi) 器，廣泛地應用在製造業(ye) 、金屬加工業(ye) 、化工業(ye) 、商檢等檢測領域。濟南普創小編整理了塗層測厚儀(yi) 的影響因素如下：

   1、基體(ti) 金屬磁性質

   磁性法測厚受基體(ti) 金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為(wei) 是輕微的），為(wei) 了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與(yu) 試件基體(ti) 金屬具有相同性質的標準片對儀(yi) 器進行校準；亦可用待塗覆試件進行校準。

   2、基體(ti) 金屬電性質

   基體(ti) 金屬的電導率對測量有影響，而基體(ti) 金屬的電導率與(yu) 其材料成分及熱處理方法有關(guan) 。使用與(yu) 試件基體(ti) 金屬具有相同性質的標準片對儀(yi) 器進行校準。

   3、基體(ti) 金屬厚度

   每一種儀(yi) 器都有一個(ge) 基體(ti) 金屬的臨(lin) 界厚度。大於(yu) 這個(ge) 厚度，測量就不受基體(ti) 金屬厚度的影響。

   4、邊緣效應

本儀(yi) 器對試件表麵形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nei) 轉角處進行測量是不可靠的。

1. 曲率

   試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表麵上測量是不可靠的。

   6、試件的變形

   測頭會(hui) 使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

   7、表麵粗糙度

   基體(ti) 金屬和覆蓋層的表麵粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表麵會(hui) 引起係統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體(ti) 金屬粗糙，還必須在未塗覆的粗糙度相類似的基體(ti) 金屬試件上取幾個(ge) 位置校對儀(yi) 器的零點；或用對基體(ti) 金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層後，再校對儀(yi) 器的零點。

   8、磁場

周圍各種電氣設備所產(chan) 生的強磁場，會(hui) 嚴(yan) 重地幹擾磁性法測厚工作。

1. 附著物質

   本儀(yi) 器對那些妨礙測頭與(yu) 覆蓋層表麵緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀(yi) 器測頭和被測試件表麵直接接觸。

   10、 測頭壓力

測頭置於(yu) 試件上所施加的壓力大小會(hui) 影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

1. 測頭的取向

測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與(yu) 試樣表麵保持垂直。

• 使用儀器時應當遵守的規定

a) 基體(ti) 金屬特性

對於(yu) 磁性方法，標準片的基體(ti) 金屬的磁性和表麵粗糙度，應當與(yu) 試件基體(ti) 金屬的磁性和表麵粗糙度相似。

   對於(yu) 渦流方法，標準片基體(ti) 金屬的電性質，應當與(yu) 試件基體(ti) 金屬的電性質相似。

b) 基體(ti) 金屬厚度

檢查基體(ti) 金屬厚度是否超過臨(lin) 界厚度，如果沒有，可采用3.3)中的某種方法進行校準。

c) 邊緣效應

   不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nei) 轉角等處進行測量。

   d) 曲率

不應在試件的彎曲表麵上測量。

e) 讀數次數

   通常由於(yu) 儀(yi) 器的每次讀數並不*相同，因此必須在每一測量麵積內(nei) 取幾個(ge) 讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的麵積內(nei) 進行多次測量，表麵粗造時更應如此。

   f) 表麵清潔度

    測量前，應清除表麵上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產(chan) 物等，但不要除去任何覆蓋層物質。